FCT

Programa Nacional de Reequipamento Científico

Projecto: Resumo, Equipa e Equipamento

Investigação á escala nanométrica de ferroeléctricos e materiais afins
REEQ/1187/CTM/2005

Resumo

Neste projecto, por recurso à utilização de microscopia de varrimento de prova (Scanning probe microscopy, SPM), especialmente modificada para visualização à escala nanométrica de domínios, mapeamento da constante dieléctrica, medidas de histerese ferroeléctrica, entre outras propriedades, caracterizaram-se ferroeléctricos e materiais afins à escala local. Foram fabricados e utilizados filmes e cerâmicos ferroeléctricos de PZT, PCT, SBT, ST, entre outros, dieléctricos de BST, LMT, BMW, entre outros de elevada qualidade e materiais orgânicos, como PVDF, PLLA, fibras de celulose, entre outros. Efectuou-se a caracterização eléctrica macroscópica, numa gama alargada de temperatura e frequência e estabeleceram-se as relações entre as propriedades locais, microestrutura e resposta macroscópica para estes materiais. A técnica de SPM foi desenvolvida e expandida através de estudos da natureza do contraste no modo pizoeléctrico de contacto e não contacto, tendo-se recorrido à utilização da análise de elementos finitos da distribuição local do campo eléctrico e tensões mecânicas sob a “ponta” de SPM. Expandiram-se as colaborações com grupos nacionais e internacionais de reconhecido mérito científico, através da utilização da técnica de SPM a uma gama alargada de materiais. Contribui-se para a formação avançada de alunos de mestrado, doutoramento e pós doutoramento no âmbito da utilização de técnicas avançadas de caracterização de materiais.

Equipa

  • Aiying Wu
  • Andrei Kholkine
  • Paula Maria Lousada Silveirinha Vilarinho

Equipamento adquirido

  • Atomic Force Microscope
  • Thermal Evaporator
  • Profilometer